会议论文《CMOS数字集成电路老炼条件的选择》探讨了在2013年工业与信息化产品环境技术研讨会上提出的CMOS集成电路老化测试方法。文章分析了不同老炼条件对芯片性能和可靠性的影响，提出了优化的老炼参数选择方案，以提高产品质量和使用寿命。该研究为集成电路制造提供了重要的参考依据。
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