会议论文《纳米尺度飞高测试的实验研究》发表于2009年中国仪器仪表与测控技术大会，主要探讨了在纳米尺度下飞行高度的测量方法与实验分析。该研究针对精密仪器中的关键参数——飞高进行深入探讨，提出了有效的测试方案，对提升微纳加工与检测技术具有重要意义。
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