会议论文《一种电路老化预测的改进方案》提出了一种优化的老化预测方法，旨在提高电路寿命评估的准确性。该研究针对传统方法在复杂环境下预测精度不足的问题，引入了新的算法模型，有效提升了预测效率。论文展示了实验结果，表明该方案在多个测试案例中均表现出良好的性能。此成果对电子设备可靠性研究具有重要意义。
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