会议论文《数字信号处理器单粒子效应测试系统的设计》发表于第十四届计算机工程与工艺会议(NCCET10)。该文介绍了针对数字信号处理器（DSP）的单粒子效应（SE）测试系统设计，旨在提高其在高辐射环境下的可靠性。通过硬件和软件的协同设计，系统能够有效模拟单粒子事件并检测DSP的故障响应，为航天及军事应用中的芯片设计提供重要参考。
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