会议论文《大规模数字集成电路地面模拟单粒子试验方法研究》发表于第一届全国辐射物理学术交流会(CRPS`2014)。该文探讨了在地面环境下模拟单粒子效应的方法，针对大规模数字集成电路进行可靠性评估。研究提出了有效的试验方案，以检测和分析单粒子翻转对电路性能的影响，为提高电子设备的抗辐射能力提供了理论依据和技术支持。
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