会议论文《多粒子场侧向散射总光强性质研究》发表于第八届全国信息获取与处理学术会议。该文研究了多粒子场中侧向散射的总光强特性，分析了不同粒子分布对散射光强的影响，为光学测量和粒子检测提供了理论依据。研究结果有助于提升散射成像技术的精度与可靠性，具有重要的应用价值。
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