DB51_T 3207-2024 集成电路测试用微波探针应用规范

DB51_T 3207-2024 集成电路测试用微波探针应用规范
主要技术内容：本文件规定了集成电路测试用微波探针（以下简称“探针”）的分类、应用要求、故障判定、推荐指数、维护需求等。本文件适用于微波集成电路中测试微波探针的选用。
起草单位：中国电子科技集团公司第九研究所
起草人：刘福涵、冯楠轩、王慧丽、张芦、高春燕、丁敬垒、李晓宇、张志红、高晓琴、肖佳琪

中文标题：集成电路测试用微波探针应用规范
标准号：DB51/T3207-2024
发布日期：2024-12-03
实施日期：2024-12-29
制修订：制定
中国标准分类号：L86
国际标准分类号：17.220
技术归口：四川省经济和信息化厅
批准发布部门：四川省市场监督管理局
行业分类：制造业
标准类别：方法标准
按地区分类：四川省
关键词：DB51/T,四川省经济和信息化厅,制造业,集成电路,探针,微波

2025-1-19 16:14 上传 DB51_T 3207-2024 集成电路测试用微波探针应用规范.pdf

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