会议论文《集成电路(半导体元器件)ESD失效模式及防护技术研究》在第六届电子产品防护技术研讨会上发表，深入探讨了静电放电（ESD）对集成电路的损害机制及其防护措施。文章分析了不同类型的ESD失效模式，提出了有效的防护技术方案，为提升电子产品的可靠性提供了理论支持和实践指导。
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