会议论文《核径迹膜断面SEM样品制备》介绍了在第五届(2008)北京核学会核技术应用学术交流会上提出的核径迹膜断面扫描电子显微镜（SEM）样品制备方法。该研究针对核径迹材料的微观结构分析需求，提出了一种有效的样品制备技术，以提高断面形貌的观察质量，为核物理和材料科学的研究提供了重要支持。
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