会议论文《由被测电路自己产生测试向量的自动测试生成》发表于第五届中国测试学术会议。该文提出一种新颖的自动测试生成方法，通过让被测电路自身生成测试向量，提高测试效率与覆盖率。研究旨在减少对传统测试生成工具的依赖，提升电路测试的智能化水平，具有重要的理论与应用价值。
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