会议论文《基于ATE的大规模数字集成电路测试技术》发表于第一届中国微电子计量与测试技术研讨会，探讨了现代自动测试设备（ATE）在大规模数字集成电路测试中的应用。文章分析了测试效率、故障覆盖率及成本控制等关键问题，提出优化测试方案以提升测试性能。该研究对推动我国集成电路测试技术的发展具有重要意义。
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