基于改进粒子群算法的低压电器可靠性优化分析 - 2009第三届电工产品可靠性与电接触国际会议.pdf

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2026-1-11 15:44 | 查看全部 阅读模式

会议论文《基于改进粒子群算法的低压电器可靠性优化分析》发表于2009第三届电工产品可靠性与电接触国际会议。该文提出一种改进的粒子群算法,用于优化低压电器的可靠性设计。通过算法改进,提高了收敛速度和全局搜索能力,有效提升了电器产品的可靠性指标,为相关领域的工程实践提供了理论支持。

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基于改进粒子群算法的低压电器可靠性优化分析 - 2009第三届电工产品可靠性与电接触国际会议
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