会议论文《两平晶互检法绝对检验测量不确定度研究》探讨了两平晶互检法在绝对检验中的测量不确定度问题。该研究针对光学平面检测中的关键误差源，分析了影响测量精度的因素，并提出了相应的不确定度评估方法。论文为提高光学元件检测的准确性提供了理论依据和技术支持，对光学测试领域具有重要意义。
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