会议论文《PBS法测量Ti膜中H同位素深度分布》介绍了利用质子束散射(PBS)技术测定钛膜中氢同位素的深度分布。该方法具有高分辨率和非破坏性特点,适用于核材料分析。研究通过实验验证了PBS法在测量薄膜中氢同位素分布的有效性,为核能应用中的材料性能评估提供了重要数据支持。
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