会议论文《两平晶方法平面绝对检验技术研究》探讨了利用两个平晶进行平面绝对检验的技术方法。该研究针对传统检验手段的局限性，提出了一种更精确的检测方案，提高了平面度测量的准确性。文章通过实验验证了该方法的可行性，为光学元件的高精度检测提供了理论支持和技术参考，具有重要的工程应用价值。
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