会议论文《40nm超大规模集成电路电源网络IR Drop预估》针对40nm工艺下的集成电路设计，提出了一种有效的IR Drop预估方法。该研究通过分析电源网络的电流分布与电压降关系，提升了对芯片工作时电压波动的预测精度。文章在第十五届计算机工程与工艺年会暨第一届微处理器技术论坛上发表，为提高芯片稳定性与可靠性提供了理论支持和技术参考。
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