会议论文《相控阵超声二维面阵阵列孔径优化研究》发表于第十三届全国敏感元件与传感器学术会议。该研究针对相控阵超声技术中的二维面阵阵列孔径进行优化，旨在提高成像分辨率和检测精度。通过理论分析与实验验证，作者提出了一种有效的孔径优化方法，为超声检测技术的发展提供了新思路。
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