会议论文《超声斜入射法检测高阻抗层后Ⅱ界面缺陷》探讨了利用超声波斜入射技术检测材料界面缺陷的方法。该研究针对高阻抗层后的Ⅱ类界面缺陷，提出了一种有效的检测方案，提高了检测精度和可靠性。论文在2009年上海-西安声学学会学术交流会上发表，对无损检测领域具有重要参考价值。
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