SiO2钝化层对ZnO紫外探测器件特性的影响研究 - 第十三届全国敏感元件与传感器学术会议.pdf

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2026-1-10 01:42 | 查看全部 阅读模式

会议论文《SiO2钝化层对ZnO紫外探测器件特性的影响研究》探讨了SiO2钝化层在ZnO紫外探测器中的作用。研究结果表明,SiO2钝化层能有效改善器件的光电性能,降低暗电流,提高响应速度和稳定性。该研究为提升ZnO基紫外探测器的性能提供了理论依据和技术支持,具有重要的应用价值。

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SiO2钝化层对ZnO紫外探测器件特性的影响研究 - 第十三届全国敏感元件与传感器学术会议
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