会议论文《基于漏电流测量的集成电路老化预测方法》发表于第十五届全国容错计算学术会议(CFTC13)。该文提出一种通过测量漏电流来预测集成电路老化的技术，旨在提高系统可靠性与稳定性。研究结合电路特性与老化模型，为集成电路的健康状态评估提供了新思路。
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