基于多目标遗传算法的加速退化试验优化设计

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2024-12-10 14:50 | 查看全部阅读模式

文档名：基于多目标遗传算法的加速退化试验优化设计
以参数退化为试验指标的加速退化试验在元器件可靠性领域有广泛的应用.通过进行试验优化设计,调整诸如应力组合,样品量分配以及测试频次等试验参数,可以在很大程度上提高加速退化试验寿命预计结果的稳定性和准确度.本文在对加速退化试验过程进行Monte-Carlo仿真的基础上,采用多目标遗传算法NSGA-Ⅱ对加速退化试验方案进行优化.得益于算法的高效和灵活性,优化设计结果可以显著提高加速退化试验的费效比.
作者：李剑焘张大宇汪悦崔华楠王博闻
作者单位：中国空间技术研究院,北京100019
母体文献：中国电子学会可靠性分会第二十届可靠性物理年会论文集
会议名称：中国电子学会可靠性分会第二十届可靠性物理年会
会议时间：2018年10月1日
会议地点：广州
主办单位：中国电子学会
语种：chi
分类号：U46TG1
关键词：电子元器件加速退化试验优化设计多目标遗传算法
在线出版日期：2021年12月15日
基金项目：
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