X射线衍射对立方氮化硼复合片表面残余应力的分析 - 庆祝中国人造金刚石诞生45周年大会暨第五届郑州国际超硬材料及制品研讨会.pdf

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2026-1-12 08:18 | 查看全部 阅读模式

会议论文《X射线衍射对立方氮化硼复合片表面残余应力的分析》探讨了利用X射线衍射技术测定立方氮化硼复合片表面残余应力的方法。该研究为评估材料在加工过程中的应力状态提供了重要依据,对提高材料性能和应用可靠性具有重要意义。论文发表于庆祝中国人造金刚石诞生45周年大会暨第五届郑州国际超硬材料及制品研讨会,展示了我国在超硬材料领域的研究成果。

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X射线衍射对立方氮化硼复合片表面残余应力的分析 - 庆祝中国人造金刚石诞生45周年大会暨第五届郑州国际超硬材料及制品研讨会
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