会议论文《三端稳压器中子辐射特性实验研究》探讨了中子辐射对三端稳压器性能的影响。该研究通过实验方法分析了不同中子通量下器件的输出电压变化及稳定性，为电子设备在核辐射环境中的可靠性提供了数据支持。文章对于提升抗辐射电子电路设计具有重要参考价值。
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