会议论文《不同偏置条件的10位CMOS模数转换器的辐射效应》探讨了在不同偏置条件下，10位CMOS模数转换器受到辐射影响的表现。该研究针对核环境下的电子器件可靠性问题，通过实验分析了辐射对转换器性能的影响，为提高电子系统在高辐射环境中的稳定性提供了理论依据和技术支持。
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