会议论文《Q-t曲线少子寿命测试方法的仿真验证》探讨了通过Q-t曲线法测定半导体材料中少子寿命的可行性。该研究利用仿真技术验证了该方法的准确性与有效性，为半导体器件性能评估提供了理论依据。文章对测试原理、仿真模型及结果进行了详细分析，有助于提高少子寿命测试的精度和效率。
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