会议论文《OVM在数字集成电路设计验证中的应用》发表于第十六届全国半导体集成电路硅材料学术会议。该文探讨了OVM（Open Verification Methodology）在数字集成电路设计验证中的实际应用，分析了其在提高验证效率和可靠性方面的优势。文章结合具体案例，展示了OVM如何优化验证流程，降低开发成本，并提升芯片设计的稳定性。对于从事集成电路设计与验证的科研人员具有重要的参考价值。
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