存储态真空电子器件渗气分析 - 中国电子学会真空电子学分会第十九届学术年会.pdf

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2026-1-10 13:01 | 查看全部 阅读模式

会议论文《存储态真空电子器件渗气分析》发表于中国电子学会真空电子学分会第十九届学术年会。该文研究了真空电子器件在存储状态下气体渗透的机理与影响因素,提出了评估渗气性能的方法,对提高器件可靠性与寿命具有重要意义。

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存储态真空电子器件渗气分析 - 中国电子学会真空电子学分会第十九届学术年会
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