基于遗传算法改进GM(1_1)模型的元器件非工作可靠性参数预测 - 2010中国电子学会可靠性分会第十五届可靠性学术年会.pdf

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2026-1-11 03:04 | 查看全部阅读模式

本文针对元器件非工作可靠性参数预测问题，提出一种基于遗传算法改进的GM(1,1)模型。通过引入遗传算法优化模型参数，提高了传统灰色预测模型的精度与适应性。该方法在可靠性分析中具有重要应用价值，能够有效提升预测结果的准确性，为电子产品的可靠性设计与评估提供理论支持。

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