会议论文《通过电子辐照改善功率VDMOS开关特性的研究》发表于2014年电力电子与航天技术高峰论坛。该文探讨了电子辐照对功率VDMOS器件开关性能的影响，通过实验分析表明，适当剂量的电子辐照可有效降低导通电阻和开关损耗，提升器件性能。研究为功率半导体器件的优化设计提供了新思路，具有重要的工程应用价值。
文档为pdf格式，0.49MB，总共4页。
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