会议论文《一种基于相邻位异或运算的测试数据压缩方法》提出了一种新的测试数据压缩技术。该方法利用相邻位的异或运算,有效减少测试数据的冗余,提高压缩比。通过实验验证,该方法在保持测试覆盖率的同时,显著降低了测试数据量,提升了测试效率。该成果为集成电路测试领域提供了有价值的参考。
文档为pdf格式,0.3MB,总共8页。
举报