会议论文《磁控溅射AlN介质的AlGaN_GaN MIS-HEMT》探讨了基于磁控溅射技术制备的AlN介质在AlGaN/GaN金属-绝缘体-半导体高电子迁移率晶体管(MIS-HEMT)中的应用。该研究旨在提升器件性能与稳定性,具有重要的学术价值和应用前景。
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