一种脉宽调制器的抗辐射性能研究 - 第十二届反应堆数值计算和粒子输运学术会议暨2008年反应堆物理会议.pdf

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2026-1-12 08:46 | 查看全部阅读模式

会议论文《一种脉宽调制器的抗辐射性能研究》探讨了脉宽调制器在辐射环境下的工作稳定性与可靠性。该研究针对反应堆物理及粒子输运领域中的关键电子器件，分析了其在高辐射条件下的性能变化，提出了改进措施以提升抗辐射能力。论文为核设施中电子系统的安全设计提供了理论支持和技术参考。

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