会议论文《不同辐照条件下反熔丝FPGA的总剂量辐照效应研究》探讨了在不同辐照条件下,反熔丝FPGA器件受到总剂量辐射影响的特性。研究通过实验分析了辐射对器件功能和性能的影响,为提高FPGA在高辐射环境中的可靠性提供了理论依据和技术支持。
文档为pdf格式,0.14MB,总共3页。
举报