会议论文《光电耦合器的单粒子瞬态脉冲效应研究》探讨了光电耦合器在受到单粒子轰击时产生的瞬态脉冲效应。该研究针对核辐射环境下光电耦合器的可靠性问题，通过实验分析了单粒子事件对器件输出信号的影响。论文为提高电子系统在高辐射环境下的抗干扰能力提供了理论依据和技术参考，具有重要的应用价值。
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