会议论文《X荧光光谱分析法在镀层厚度测量中的应用》探讨了X射线荧光光谱技术在镀层厚度检测中的实际应用。该文介绍了该方法的原理、优势及实验验证，强调其非破坏性、快速和高精度的特点。文章为精密测量领域提供了新的技术参考，对提升镀层质量控制水平具有重要意义。
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