X-射线荧光直接压片法测定硅锰合金中的硅、锰、磷元素 - 帕纳科中国第十届X射线分析仪器用户技术交流会.pdf

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2026-1-12 08:17 | 查看全部阅读模式

会议论文《X-射线荧光直接压片法测定硅锰合金中的硅、锰、磷元素》介绍了利用X-射线荧光技术对硅锰合金中主要元素进行快速分析的方法。该方法通过直接压片制样，简化了传统分析流程，提高了检测效率和准确性。文章在帕纳科中国第十届X射线分析仪器用户技术交流会上发表，为材料分析领域提供了实用的技术参考。

文档为pdf格式，0.74MB，总共8页。