会议论文《X射线荧光光谱法测定四氧化三锰中杂质含量》介绍了利用X射线荧光光谱技术对四氧化三锰中的杂质元素进行快速、准确的定量分析。该方法具有操作简便、检测速度快、非破坏性等优点，适用于工业生产中的质量控制。文章在帕纳科中国第十届X射线分析仪器用户技术交流会上发表，为相关领域的研究和应用提供了重要参考。
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