会议论文《一等量块光波干涉测量要件》发表于2008年高精度几何量光电测量与校准技术研讨会。该文探讨了利用光波干涉技术对一等量块进行高精度测量的关键因素，包括光源稳定性、光学系统设计及环境控制等。研究旨在提升量块测量的准确性和可靠性，为精密制造和计量领域提供理论支持和技术参考。
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