X荧光光谱法测定钛铁中Ti、Si、P、Mn、Cu - 第17届全国铁合金学术研讨会.pdf

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2026-1-12 08:18 | 查看全部 阅读模式

会议论文《X荧光光谱法测定钛铁中Ti、Si、P、Mn、Cu - 第17届全国铁合金学术研讨会》介绍了利用X荧光光谱技术对钛铁中的主要元素进行快速、准确测定的方法。该方法具有操作简便、分析速度快、精度高等优点,适用于生产过程中的质量控制和成分分析。论文通过实验验证了该方法的可行性与可靠性,为铁合金领域的检测提供了有效参考。

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X荧光光谱法测定钛铁中Ti、Si、P、Mn、Cu - 第17届全国铁合金学术研讨会
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