USB端子产生锈蚀的机理研究 - 中国电子学会可靠性分会第十四届学术年会.pdf

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2026-1-12 08:13 | 查看全部 阅读模式

会议论文《USB端子产生锈蚀的机理研究》探讨了USB接口在不同环境条件下发生锈蚀的原因及影响因素。文章通过实验分析,揭示了湿度、温度和腐蚀性气体对USB端子材料的侵蚀机制,提出了有效的防护措施,为提高电子设备的可靠性和使用寿命提供了理论依据和技术支持。

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USB端子产生锈蚀的机理研究 - 中国电子学会可靠性分会第十四届学术年会
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