扩散硅压阻式传感器温度漂移性能及补偿算法研究 - 2009年全国压力计量测试技术交流年会.pdf

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2026-1-11 17:45 | 查看全部 阅读模式

会议论文《扩散硅压阻式传感器温度漂移性能及补偿算法研究》探讨了扩散硅压阻式传感器在温度变化下的输出漂移问题。文章分析了温度对传感器性能的影响机理,提出了有效的温度漂移补偿算法,以提高传感器的测量精度和稳定性。该研究对于提升压力测量的可靠性具有重要意义,为相关领域的技术改进提供了理论支持。

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扩散硅压阻式传感器温度漂移性能及补偿算法研究 - 2009年全国压力计量测试技术交流年会
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