会议论文《γ射线康普顿背散射测厚技术研究》发表于中国核学会2009年学术年会，探讨了利用γ射线康普顿背散射原理进行材料厚度测量的技术方法。该研究通过分析散射γ射线的能量和强度变化，建立测厚模型，为无损检测提供了新思路。论文对实验装置、数据处理及实际应用进行了详细阐述，具有重要的理论和实践价值。
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