单粒子效应对VLSI器件的影响及防护 - 第十三届全国容错计算学术会议.pdf

7 0
2026-1-11 14:00 | 查看全部 阅读模式

会议论文《单粒子效应对VLSI器件的影响及防护》探讨了单粒子效应在超大规模集成电路中的影响及其防护措施。文章分析了单粒子事件对电路性能的干扰机制,提出了有效的防护策略,以提高系统可靠性。该研究对于提升航天、军事等关键领域的电子设备抗干扰能力具有重要意义。

文档为pdf格式,0.76MB,总共6页。

单粒子效应对VLSI器件的影响及防护 - 第十三届全国容错计算学术会议
文件大小:
778.24 KB
高速下载
2026 资料下载 联系邮件:1991591830#qq.com 浙ICP备2024084428号-1