会议论文《基于NINO芯片的TOT读出电子学系统的研究》发表于第十五届全国核电子学与核探测技术学术年会。该文探讨了利用NINO芯片构建TOT（Time Over Threshold）读出电子学系统的可行性与性能。研究旨在提高核探测系统的时间分辨率与信号处理效率，为高能物理和核科学实验提供可靠的技术支持。
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