本文比较了CMOS 4000系列和54HC系列器件在总剂量辐照下的响应特性。通过实验分析，研究了不同辐照剂量对器件电气性能的影响，揭示了两种器件在抗辐射能力上的差异，为航天及高辐射环境下的电子系统设计提供了参考依据。
文档为pdf格式，0.25MB，总共5页。
举报
