利用国产电感耦合等离子体原子发射光谱-碱溶法测定三氧化二铬原料中杂质Si、Fe、V和高含量Al - 第十五届冶金及材料分析测试学术报告会(CCATM2010).pdf

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2026-1-11 01:51 | 查看全部 阅读模式

会议论文《利用国产电感耦合等离子体原子发射光谱-碱溶法测定三氧化二铬原料中杂质Si、Fe、V和高含量Al》介绍了采用国产电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP-AES)结合碱溶法对三氧化二铬原料中的杂质元素进行检测的方法。该方法有效解决了高含量铝对测定的干扰,提高了检测的准确性和稳定性,为冶金分析提供了可靠的技术支持。

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利用国产电感耦合等离子体原子发射光谱-碱溶法测定三氧化二铬原料中杂质Si、Fe、V和高含量Al - 第十五届冶金及材料分析测试学术报告会(CCATM2010)
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