双间隙耦合腔中高次模式振荡与杂谱分析 - 中国电子学会真空电子学分会第十七届学术年会暨军用微波管研讨会.pdf

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2026-1-11 14:09 | 查看全部 阅读模式

会议论文《双间隙耦合腔中高次模式振荡与杂谱分析》探讨了双间隙耦合腔结构中高次模式的振荡特性及杂谱现象。研究通过理论分析与实验验证,揭示了高次模式对系统性能的影响,为微波管设计提供了重要参考。该文针对军用微波管的应用需求,提出了优化方案,具有较高的学术价值和工程应用意义。

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双间隙耦合腔中高次模式振荡与杂谱分析 - 中国电子学会真空电子学分会第十七届学术年会暨军用微波管研讨会
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