会议论文《模拟集成电路故障诊断改进遗传神经网络方法》发表于第六届中国测试学术会议，提出了一种结合遗传算法与神经网络的故障诊断方法。该方法通过优化神经网络结构和参数，提高了诊断的准确性和效率，为模拟集成电路的故障检测提供了新思路。
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