枕头现象的测试与预防 - 2010中国高端SMT学术会议.pdf

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2026-1-10 23:00 | 查看全部 阅读模式

会议论文《枕头现象的测试与预防》发表于2010年中国高端SMT学术会议,主要探讨了电子制造中常见的“枕头现象”问题。文章分析了该现象的成因及对产品质量的影响,并提出了有效的测试方法和预防措施。研究对于提升SMT工艺水平和产品可靠性具有重要参考价值。

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枕头现象的测试与预防 - 2010中国高端SMT学术会议
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