基于KNN算法的模拟电路测点优化 - 第十五届全国容错计算学术会议(CFTC13).pdf

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2026-1-10 12:25 | 查看全部 阅读模式

会议论文《基于KNN算法的模拟电路测点优化》发表于第十五届全国容错计算学术会议(CFTC13)。该文提出一种利用KNN算法优化模拟电路测试点的方法,通过分析电路参数与故障特征之间的关系,提高测试效率和诊断准确性。研究为复杂电路的故障检测提供了新的思路,具有重要的理论与应用价值。

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基于KNN算法的模拟电路测点优化 - 第十五届全国容错计算学术会议(CFTC13)
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